Abstracto
La detección de variaciones espaciales o temporales en muestras muy delgadas tiene importantes aplicaciones en las ciencias biológicas. Por ejemplo, las membranas celulares presentan cambios en la composición y el orden de los lípidos, que a su vez modulan su función en el espacio y el tiempo. La medición simultánea del espesor y el índice de refracción sería una forma de observar estas variaciones, pero hacerlo de forma no invasiva sigue siendo un objetivo difícil de alcanzar. Aquí presentamos una técnica de imagen microscópica para medir simultáneamente el espesor y el índice de refracción de capas delgadas de manera espacialmente resuelta mediante reflectometría. La interferencia detectada por heterodino entre un campo de luz reflejado por la muestra y un campo de referencia permite medir la amplitud y la fase del campo reflejado y, por lo tanto, determinar el coeficiente de reflexión complejo. Comparando los resultados con la reflexión simulada de una capa delgada bajo iluminación coherente de alta apertura numérica por el objetivo del microscopio, se pueden determinar el índice de refracción y el espesor de la capa. Presentamos resultados sobre una capa de acetato de polivinilo (PVA) con un espesor aproximado de 80 nm. Estos resultados tienen una precisión superior al 10 % en el espesor y superior al 1 % en el índice de refracción, y son consistentes, dentro del margen de error, con las mediciones realizadas mediante contraste de interferencia diferencial cuantitativa (qDIC) y los valores de la literatura. Analizamos la importancia de estos resultados y la posibilidad de realizar mediciones precisas en capas nanométricas. Cabe destacar que el límite de ruido de disparo de la técnica es inferior a 0,5 nm en el espesor y a 0,0005 en el índice de refracción para tiempos de medición de milisegundos
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